中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-09-28
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW表面形貌3D白光干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-09-25
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW3D表面形貌白光干涉輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-16
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW白光干涉表面形貌3D輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-09-12
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW白光干涉3D微觀形貌儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。SuperViewW具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn).
更新時(shí)間:2025-08-25
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW納米級精密測量白光干涉儀測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
更新時(shí)間:2025-08-11
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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