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SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
更新時間:2025-04-07
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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中圖儀器W系列3d表面輪廓光學(xué)檢測儀能對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
更新時間:2025-04-07
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-04-06
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器,主要用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
更新時間:2025-04-06
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測量儀是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測,具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。
更新時間:2025-04-06
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外,光學(xué)表面輪廓儀品牌SuperViewW1具有的測量晶圓翹曲度功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。
更新時間:2025-04-06
產(chǎn)品型號:SuperViewW1
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